用OTDRq行光纤量可分Z步:参数讄、数据获取和曲线分析。h工设|测量参数包括:
(1)波长选择(λ)Q?nbsp;
因不同的波长对应不同的光U特?包括衰减、微弯等)Q测试L长一般遵循与pȝ传输通信波长相对应的原则Q即pȝ开?550波长Q则试波长?550nm?/font>
(2)脉宽(Pulse Width)Q?nbsp;
脉宽长Q动态测量范围越大,量距离更长Q但在OTDR曲线波Ş中生盲区更大;短脉冲注入光q低Q但可减盲区。脉宽周期通常以ns来表C?/font>
(3)量范围(Range)Q?nbsp;
OTDR量范围是指OTDR获取数据取样的最大距,此参数的选择军_了取样分辨率的大。最x量范围ؓ待测光纤长度1.5?倍距M间?/font>
(4)q_旉Q?nbsp;
׃后向散射光信h其微弱,一般采用统计^均的Ҏ来提高信噪比Q^均时间越长,信噪比越高。例如,3min的获得取比1min的获得取提高 0.8dB的动态。但过 10min的获得取旉对信噪比的改善ƈ不大。一般^均时间不过3min?/font>
(5)光纤参数Q?nbsp;
光纤参数的设|包括折率n和后向散系数n和后向散系?eta;的设|。折率参数与距L量有养I后向散射pL则媄响反与回L损耗的量l果。这两个参数通常由光U生产厂家给出?/font>
参数讄好后QOTDR卛_发送光脉冲q接收由光纤链\散射和反回来的光,对光甉|器的输出取P得到OTDR曲线Q对曲线q行分析卛_了解光纤质量?/font>
2 l验与技?nbsp;
(1)光纤质量的简单判别:
正常情况下,OTDR试的光U曲U主?单盘或几盘光~?斜率基本一_若某一D|率较大,则表明此D衰减较大;若曲U主体ؓ不规则ŞӞ斜率起伏较大Q弯曲或呈弧Ӟ则表明光U质量严重劣化,不符合通信要求?/font>
(2)波长的选择和单双向试Q?nbsp;
1550波长试距离更远Q?550nm?1310nm光纤对弯曲更敏感Q?550nm?310nm单位长度衰减更小?310nm?550nm的熔接或连接器损耗更高。在实际的光~维护工作中一般对两种波长都进行测试、比较。对于正增益现象和超q距ȝ路均进行双向测试分析计,才能获得良好的测试结论?/font>
(3)接头清洁Q?nbsp;
光纤zL头接入OTDR前,必须认真清洗Q包括OTDR的输出接头和被测zL_否则插入损耗太大、测量不可靠、曲U多噪音甚至使测量不能进行,它还可能损坏OTDR。避免用酒精以外的其它清z剂或折率匚wԌ因ؓ它们可光纤q接器内_合剂溶解?/font>
(4)折射率与散射pL的校正:光U长度测量而言Q折系数每0.01的偏差会引v7m/km之多的误差,对于较长的光U段Q应采用光缆刉商提供的折率倹{?/font>
(5)鬼媄的识别与处理Q?nbsp;
在OTDR曲线上的峰有时是由于离入射端较q且强的反射引v的回韻Iq种峰被称之ؓ鬼媄。识别鬼影:曲线上鬼影处未引h显损耗;沿曲UK׃始端的距L强反事件与始端距离的倍数Q成对称状。消除鬼影:选择短脉冲宽度、在强反前??OTDR输出?中增加衰减。若引v鬼媄的事件位于光U终l,?quot;打小?quot;以衰减反回始端的光?/font>
(6)正增益现象处理:
在OTDR曲线上可能会产生正增益现象。正增益是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光U生更多的后向散光而Ş成的。事实上Q光U在q一熔接点上是熔接损耗的。常出现在不同模场直径或不同后向散射pL的光U的熔接q程中,因此Q需要在两个方向量q对l果取^均作熔接损耗。在实际的光~维护中Q也可采?le;0.08dB即ؓ合格的简单原则?/font>
(7)附加光纤的用:
附加光纤是一D는于连接OTDR与待光U、长300?000m的光U,其主要作用ؓQ前端盲区处理和l端q接器插入测量?/font>
一般来_OTDR与待光U间的连接器引v的盲区最大。在光纤实际量中,在OTDR与待光U间加接一D过渡光U,使前端盲在过渡光U内Q而待光U始端落在OTDR曲线的线性稳定区。光U系l始端连接器插入损耗可通过OTDR加一D过渡光U来量。如要测量首、尾两端q接器的插入损耗,可在每端都加一q渡光纤?/font>
3 试误差的主要因?/font>
1)OTDR试仪表存在的固有偏?br data-filtered="filtered" />
由OTDR的测试原理可知,它是按一定的周期向被光U发送光脉冲Q再按一定的速率来自光U的背向散射信号抽样、量化、编码后Q存储ƈ昄出来?OTDR仪表本n׃抽样间隔而存在误差,q种固有偏差主要反映在距d辩率上。OTDR的距d辩率正比于抽样频率?br data-filtered="filtered" />
2)试仪表操作不当产生的误?br data-filtered="filtered" />
在光~故障定位测试时QOTDR仪表使用的正性与障碍试的准性直接相养I仪表参数讑֮和准性、A表量E范围的选择不当或光标设|不准等都将D试l果的误差?br data-filtered="filtered" />
Q?Q?讑֮仪表的折率偏差产生的误?br data-filtered="filtered" />
不同cd和厂家的光纤的折率是不同的。用OTDR试光纤长度Ӟ必须先进行A表参数设定,折射率的讑֮是其中之一。当几段光缆的折率不同时可采用分段讄的方法,以减因折射率设|误差而造成的测试误差?br data-filtered="filtered" />
Q?Q?量程范围选择不当
OTDR仪表试距离分辩率ؓ1cxQ它是指囑Ş攑֤到水q_度ؓ25c?格时才能实现。A表设计是以光标每Ud25步ؓ1满格。在q种情况下,光标每移动一步,卌C移?c的距离Q所以读出分辩率?c뀂如果水q_度选择2公里/每格Q则光标每移动一步,距离׃偏移80c뀂由此可见,试旉择的量E范围越大,试l果的偏差就大?br data-filtered="filtered" />
Q?Q?脉冲宽度选择不当
在脉冲幅度相同的条g下,脉冲宽度大Q脉冲能量就大Q此时OTDR的动态范围也大Q相应盲Z大?br data-filtered="filtered" />
Q?Q?q_化处理时间选择不当
OTDR试曲线是将每次输出脉冲后的反射信号采样Qƈ把多ơ采样做q_处理以消除一些随ZӞq_化时间越长,噪声电^接q最|动态范围就大。^均化旉长Q测试精度越高,但达C定程度时_ֺ不再提高。ؓ了提高测试速度Q羃短整体测试时_一般测试时间可?.5~3分钟内选择?br data-filtered="filtered" />
Q?Q?光标位置攄不当
光纤zdq接器、机械接头和光纤中的断裂都会引v损耗和反射Q光U末端的破裂端面׃末端端面的不规则性会产生各种菲涅反峰或者不产生菲涅反。如果光标设|不够准,也会产生一定误差?/font>
4 接头损耗的标准数?/font>
光纤接箋标准多年来一直是一个有争议的问题,部颁YDJ44-89《电信网光纤数字传输pȝ施工及验收暂行规定》简U《暂规》,对光U接l损耗的量Ҏ做了规定Q但没有规定明确的标准。原信部郑州设计院在中国电信南九试验段以后的工E中提出了中l段单纤q_接箋损?.08dB/个的设计标准Q以后的q线工程均沿用?/font>
ITU有关接箋介入损耗的原文如下?quot;
本试验用于一个竣工的光纤接头Q?用以度量接头质量?/font>
应按照IEC 1073-1q行试验。测量可在实验室或现行。实验室用剪回法较好Q现场可用双向OTDR法。介入损耗的典型值可能随应用场合和(或)所用方法而变化。最的接头损耗典型?le;0.1dB。在某些场合中,介入损耗典型?le;0.5dB是可能接受的。有许多熔接机和机械接箋装置在制作接头后可以估算接头损耗倹{某些主部门和U营q行机构在现场接l安装时采用q些估算|q且在全部线路施工完成后Q再用OTDR对线路全E进行复。在现场安装Ӟ也可用其它一些方法来估算接头损耗|例如采用夹上ȝ功率计和本地注入的Ҏ?/font>
Q?Q该是基于单U接头损耗的可接受?le;0.5dBQ^均值没有规定的情况下而言的?/font>
从目前的熔接机情늜Q?熔接机所昄的数据配合观察光U接头断面情况, 能够_略估计光纤接箋Ҏ耗的状况Q?但不能精到目前我国所要求的光U接l损耗指标的数量U。我们认为,q些熔接机的设计目的和依据是ZITU的?/font>
Q?Q目前的熔接机接l是通过对光UX轴和Y轴方向的错位调整Q在轴心错位最时q行熔接的,q种能调整u心的ҎUCؓU芯直视法,q种Ҏ不同于功率检法Q现场是无法知道接头损耗确切数值的。但是在整个调整轴心和熔接接l过E中Q通过摄像机把探测到所熔接U芯状态的信息送到熔接机的专用E序中,可以计算出接l后的损耗倹{但它只能说明光Uu心对准的E度Qƈ不含有光U本w的固有Ҏ所影响的损耗。而OTDR的测试方法是后向散射法,它包含有光纤参数的不同Ş成反的损耗?/font>
比较上述两种试原理Q两者有很大区别。通过实践证明Q两U方法测出数据一致性也较差Q通过最q几q对q线工程接箋试发现Q很多情况下熔接机显C损耗很(于0.05dBQ甚至ؓӞ但OTDR试则大?.08dBQ且没发现有对应的规律?/font>
日本的接头损耗标准(NTT光缆施工验收规程Q最值小?.9dBQ无q_D求,只有中D|衰减要求,只要满Q就能开通设计要求的或将来要增加的设备,在接l操作方面则与ITU一致。美国、欧z诸国也都采取了大致与ITU一致的做法?/font>
事实上,影响光缆安全的主要是机械损伤Q光U接l损耗大一点ƈ不会影响接箋强度Q因此我们时候在验收试中发?有些Ҏ值确实偏?大约?%左右的接头回标?q且在多ơ接l后仍无法降?在这U情况下,也是可以判断合格?有的时候会按照中D|衰减来要求,从而验收合?/font>
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